Lab. Diagnostica di Superficie (Genova)

Osservazione di campioni di tipo inorganico, organico e biologico su supporto solido in aria ed in liquido con risoluzione atomica in modalità STM e AFM.
Diagnostica di superficie (BAM, Ellissometria e AFM) per la caratterizzazione meccanica, termodinamica e strutturale di strati interfacciali misti alle interfacce liquide.

  • PARCO STRUMENTALE:
    • Microscopio a forza atomica (AFM);
    • Microscopia ad angolo di Brewster (BAM) /anche su bilancia di Langmuir;
    • Ellissometria /anche su bilancia di Langmuir;
    • Profilometro ottico non a contatto (confocale+interferometrico+ variazione di fuoco) 3D Sensofar S-Neox con risoluzione dell’ordine dei nm per l’analisi di superfici opache o trasparenti e la misura di spessori di film sottili;
    • Strumento di misura di microdurezza Micro Indenter Leica VM HT MOT.