Il laboratorio di Analisi Microstrutturali raggruppa le strumentazioni per la caratterizzazione di materiali, in particolare metalli e solidi cristallini.
Per gli studi morfologici sono a disposizione due microscopi elettronici a scansione (SEM e FEG-SEM), coadiuvati da strumenti per la microscopia ottica: è possibile osservare superfici, fratture e microstrutture da dimensioni millimetriche fino a dimensioni nanometriche.
Per analisi della composizione, sono a disposizione tecniche di indagine qualitative e semi-quantitative abbinate ai microscopi elettronici: osservazione attraverso elettroni retrodiffusi (BSE) ed analisi tramite spettrometria a dispersione di energia (EDS).
Per le indagini di tipo cristallografico, il laboratorio dispone inoltre di due tecniche complementari: analisi XRD con diffrattometro attrezzabile con camere termiche per analisi e studi tra -190°C e 1200°C, su campioni massivi o polveri, ed EBSD (Electron Back Scattered Diffraction) abbinata alla microscopia SEM per analisi puntuali su specifiche porzioni di materiale.
Il laboratorio dispone inoltre di apposita strumentazione per taglio, inglobamento e preparazione metallografica di campioni metallici e non, per una corretta analisi con le metodiche strumentali a disposizione.

SEM ad alta risoluzione Hitachi SU70

Micrografia in trasmissione ad alto ingrandimento: precipitati in lega di alluminio

Micrografia di polvere di Nichel ottenuta per via elettrolitica
Esempio di analisi EBSD: geminati in lega di nickel

Diffrattometro Panalytical X’Pert PRO MPD
Esempio di studio dell’evoluzione microstrutturale di un campione soggetto a trattamento termico attraverso diffrazione X
  • PARCO STRUMENTALE:
    • Microscopio elettronico a scansione Hitachi SU70 (FEG-SEM) per alta risoluzione, con:
      • detector convenzionali in camera e detector per alta risoluzione in colonna per elettroni secondari e retrodiffusi (SE, BSE);
      • detector per elettroni trasmessi (STEM)
      • sistema per microanalisi a dispersione di energia EDS (Thermo), LN free SDD
      • sistema per analisi diffrazione da elettroni retrodiffusi (EBSD).

    • Microscopio elettronico a scansione LEO 1430 (W-SEM), con detector per elettroni secondari e retrodiffusi (SE, BSE), sistema di microanalisi EDS INCA Energy 200, sistema di analisi EBSD INCA CRYSTAL.

    • Microscopio ottico metallografico Aristomet, per osservazioni in campo chiaro, e con luce polarizzata.

    • Stereomicroscopio WILD con illuminazione LED e polarizzatore.

    • Microdurometro Leitz Miniload.

    • Diffrattometro a raggi-X Panalytical X’Pert PRO MPD (geometria θ-θ, sorgente Cu Kα), con:
      • Sensore lineare X'celerator;
      • Celle per misure in temperatura Anton Paar TTK-450 (-190/+450°C) e Anton Paar HTK 1200N (25°C/1200°C);
      • Spinner

    • Strumentazione per la preparazione metallografica: troncatrice metallografica di precisione, prelevigatrice e levigatrice con testa semiautomatica, inglobatrice a caldo, sputter per metallizzazione di campioni non conduttivi.

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